Los módulos de E/S ultracompactos TBEN-S de Turck crean, con los controladores LabVIEW, nuevas posibilidades para una automatización eficiente de los bancos de pruebas.

Controladores LabVIEW para módulos de E/S en bloque IP67

24/19 Los nuevos controladores convierten las E/S de bloque compacto de Turck en la alternativa robusta para la automatización de bancos de pruebas utilizando módulos IP67, sin necesidad de un PLC directamente en el campo

El sitio web de National Instruments ofrece ahora drivers LabVIEW descargables para los módulos compactos de E/S TBEN-S de Turck. Los nuevos drivers permiten a los usuarios reducir significativamente los costes de la automatización de los bancos de pruebas en la producción. Los robustos módulos de bloques de E/S TBEN-S2-2RFID-4DXP, TBEN-S2-4AO, TBEN-S2-4AI y TBEN-S1-8DXP pueden sustituir a los caros sistemas de E/S que se utilizan habitualmente para la automatización de los bancos de pruebas. Ya no se necesita un PLC separado para controlar los módulos. Gracias a su elevado grado de protección IP67, los módulos pueden instalarse directamente en el campo sin necesidad de un armario de control. 

Los controladores LabVIEW fueron desarrollados en estrecha colaboración con Turck como parte de un proyecto de cliente por los especialistas de Kirschenhofer Maschinen GmbH. La gama de productos de la empresa abarca desde la construcción de máquinas e instalaciones, pasando por el desarrollo de software, hasta la integración de sistemas y la automatización de bancos de pruebas.

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